В. Описание программы реализации алгоритма функционирования интеллектуальной информационно-измерительной системы неразрушающего контроля теплофизических свойств теплоизоляционных материалов и мониторинга режимных параметров

АЛГОРИТМ ФУНКЦИОНИРОВАНИЯ ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ СИСТЕМЫ И МОНИТОРИНГА РЕЖИМНЫХ ПАРАМЕТРОВ

  • 1. Сравнение чисел с реальными допустимыми значениями для каждого контролируемого режимного параметра (индикация процесса контроля на дисплее интеллектуальной информационно-измерительной системы (ИИИС)).
  • 2. Сравнение С с Сдоп.
  • 3. Если С е Сдоп, то продолжается контроль следующего режимного параметра. Если нет, то параметр корректируется на оборудовании для подготовки сырья (ОПС).
  • 4. Сравнение Wvs с Wvsaon.
  • 5. Если Wvs е Wvs доп, то продолжается контроль. Если нет, то параметр корректируется на ОПС.
  • 6. Сравнение Сс1 с Cd доп.
  • 7. Если Cd е С^доп, то продолжается контроль. Если нет, то происходит коррекция параметра на оборудовании для формирования волокна (ОФВ).
  • 8. Сравнение CSK с СЖдоп.
  • 9. Если Csk е Сякяоп, то продолжается контроль. Если нет, то происходит коррекция параметра на ОФВ.
  • 10. Сравнение К05с КО5доП.

И. Если Vos е Vos доп, то продолжается контроль. Если нет, то параметр корректируется в устройстве климат-контроля (УКК).

  • 12. Сравнение Tos с TOSaoa.
  • 13. Если Tos е Tqs доп, то продолжается контроль следующего параметра. Если нет, то параметр корректируется в УКК.
  • 14. Сравнение Sc с Sc доп-
  • 15. Если Sc е Sc доп, то продолжается контроль. Если нет, то происходит коррекция параметра на центрифуге.
  • 16. Сравнение Т с Гд.
  • 17. Если Т е Гдоп, то контроль режимных параметров закончен (индикация на дисплее «режимные параметры в норме»). Если нет, то происходит коррекция параметра в камере термообработки и весь материал отправляется заново на переработку.
  • 18. Контроль температуры (7}„) в области контакта измерительного зонда и исследуемого материала (индикация на дисплее ИИИС).
  • 19. Сравнение Tin (х„, т,) с ?зад, где хп - расстояние от датчика температуры до нагревателя, т, - текущее время, - заданное пороговое значение температуры.
  • 20. Если Tin > ?заД, то продолжается контроль Т.
  • 21. Если Tin ?зад> то измерительный зонд помещают на исследуемый материал.
  • 22. Осуществляется тепловое воздействие на исследуемый материал с помощью линейного нагревателя при подаче на него импульсов нагрева заданной мощности (индикация процесса нагрева на дисплее ИИИС).
  • 23. Регистрация и запись в память микроконтроллера термограммы по данным датчиков температуры в области измерения (области контакта измерительного зонда и исследуемого материала).
  • 24. Отключение подаваемых импульсов нагрева на исследуемый материал.
  • 25. Запись в память контролируемых информационных параметров - температур Тпь т() и Tm (xh т,).
  • 26. Расчёт по температурно-временным характеристикам Тпь т;), Т,п (xh Ti) параметров теплофизических свойств материалов - коэффициентов теплопроводности (X) и температуропроводности (а) (индикация X и а на дисплее ИИИС).
  • 27. Расчёт относительной погрешности (6) определения X и а (индикация 5а на дисплее ИИИС).
  • 28. Ввести значение плотности (р) для исследуемого материала.
  • 29. Расчёт теплоёмкости (Q (индикация на дисплее ИИИС).
  • 30. Расчёт математического ожидания (М) (индикация на дисплее ИИИС).
  • 31. Расчёт среднеквадратической погрешности (а) (индикация на дисплее ИИИС).
  • 32. Расчёт предельных абсолютной и относительной погрешностей X и а (АПред Апред а,) (индикация на дисплее ИИИС).

ИНФОРМАЦИЯ ДЛЯ БАЗЫ ЗНАНИЙ ИИИС

1. Допустимые значения режимных параметров.

где

К4 = ехр

а1

' 1 / гр

РУП If 771 ехр к 2 —— k lm2 7

Ina, —^Mna2

k Г”| ] ^2 ^m2

1п^

<*1

. к = Х|С'1 .

3 ln(^4ai)’

ттг ттх

(*!= 1,09-10“7м[1]/с; а2 = 4,61-10-7 м1/с;

ПВ. 1. Допустимые значения режимных параметров

Режимный параметр

Допусковое значение

Нижняя граница

Верхняя граница

X

НА+1%(РП)

Y

вД-1’/«(РП)

С

70,7000

79,2000

^всс

20,2000

29,7000

Сд

4,0400

9,9000

Сев

2,0200

4,9500

Кос

48,4800

59,4000

^ос

18,1800

20,7900

Рт

1212

1485

Sn

6060

6930

Xi = 0,195 Вт/(м-К); Х2 = 0,028 Вт/(м-К); С = — ра

  • 3. Математические зависимости для выполнения метрологического анализа:
    • а) относительные погрешности Айа:
  • 5Х =^Ьв^.юО%, 5а=^^-100%;

Л-эт СЦТ

б) математическое ожидание

где т - число экспериментов,

в) среднеквадратическая погрешность

  • 12 2
  • 1

г) предельные абсолютные и относительные погрешности а и А

Апреда/ = ^[Да7 ]+?а, «-1° [Да7 ] ;

АпреЛ =^[%]+^а,«-1^[Д^];

§ = Апрсда/ .

^пред^-у ’

7

о , А предку

°предЛу ’

где /а и—1 - коэффициент Стьюдента при доверительной вероятности

а = 0,95 и количестве измерений п - 1.

БЛОК-СХЕМА ПРОГРАММЫ

ПВ.1. Блок-схема программы реализации алгоритма функционирования интеллектуальной информационноизмерительной системы и мониторинга режимных параметров

Рис. ПВ.1. Блок-схема программы реализации алгоритма функционирования интеллектуальной информационноизмерительной системы и мониторинга режимных параметров

ПВ.1 (продолжение)

Рис. ПВ.1 (продолжение)

ПВ.1 (продолжение)

Рис. ПВ.1 (продолжение)

Приложение Г

  • [1] Формулы для расчёта X, а и теплоёмкости С: а = К{ ехр(/С2^Л Х=^-Х31п(Х4а), т
 
Посмотреть оригинал
< Пред   СОДЕРЖАНИЕ ОРИГИНАЛ   След >