Исследование микроструктуры материала

Рентгенография

Рентгеноструктурный анализ полученного материала проводился методом рентгенографии на дифрактометре ДРОН-ЗМ с автоматической регистрацией спектра. Условия съемки рентгенограммы: Си — анод, N1 — фильтр.

Минералогический состав определялся по картотеке ^РОБ по алгоритмам программ «Фазан» и ТЯГА. В качестве базовых диагностических элементов приняты: Н, С, О, N8, М§, А1, 81, Са, Ре. Уровень ошибки по шкале углов О, Г при числе совпадающих линий 5 и более. Отклонения по соотношениям относительных интенсивностей дифракционных линий образца и эталонов не более 5 %, коэффициент корреляции 95 %.

Растровая электронная микроскопия

Морфологические характеристики образцов изучались на электронных микроскопах ^М-25 и РЭМ-ШОУ с компьютерной регистрацией изображения при ускоряющемся напряжении 5 кВ (,18М-25) и 15 кВ (РЭМ-ШОУ) в диапазоне увеличений от 100 до 1500х. На образцы скола и отшлифованного бетона наносилось проводящее покрытие — углеродная или серебряная пленка.

Оптический метод

Оптический анализ проводился на микроскопе Рейхарт Р100 с использованием приставки фазового контраста. Образцы битумоперлита пропитывались циакрином. Пропитанный слой зашлифовывался. Пропитка со шлифовкой проводилась в несколько этапов до полного покрытия образца пропиткой. Проверка пропитки проводилась снятием мазка петролийным эфиром до появления пятна (40 слоев). Толщина слоя считалась эффективной при равенстве половине зерна перлита (0,45 мм). Другим способом образец, наклеенный на стекло, пропитывался циакрином, зашлифовывался.

В качестве регистрирующих устройств использовались телевизионные камеры. Особенностью применявшихся камер является регистрируемый широкий спектральный диапазон, высокая чувствительность — 0,003 люкса, низкие шумы — выше 50 дБ.

 
Посмотреть оригинал
< Пред   СОДЕРЖАНИЕ ОРИГИНАЛ   След >